高光谱成像仪的性能评估参数主要有哪几个?
发布时间:2023-08-25
浏览次数:501
高光谱成像仪的应用领域和范围,通常由其系统自身的性能参数决定。高光谱成像仪用于系统评估的性能参数有很多,主要包括工作光谱范围、光谱分辨率、探测器凝视时间、信噪比和集光本领等几个主要参数。本文对这几个主要参数作了详细的介绍,对此感兴趣的朋友不妨了解一下!
高光谱成像仪的应用领域和范围,通常由其系统自身的性能参数决定。高光谱成像仪用于系统评估的性能参数有很多,主要包括工作光谱范围、光谱分辨率、探测器凝视时间、信噪比和集光本领等几个主要参数。本文对这几个主要参数作了详细的介绍,对此感兴趣的朋友不妨了解一下!
1.工作光谱范围
工作光谱范围指光谱仪能够记录的光谱范围,其主要由光学系统中光学元件的光谱透过率或者反射率,及所选探测器的光谱灵敏度范围决定。
2.光谱分辨率
光谱分辨率为探测光谱辐射能量的最小波长间隔,即光谱探测能力。对于光学系统来说,一般将其定义为光谱通道的波段宽度,即在工作光谱范围内,其分光元件所得光谱通道越多、波段宽度越窄,光谱分辨率越高;对于探测器来说,其被严格定义为仪器达到光谱响应最大值的50%时的波长宽度,探测器能够识别的波段数越多、波普范围越窄,地面物体信息越容易区分和识别,针对性越强。
3.信噪比
信噪比(SNR),其定义为成像光谱仪所采集的目标信号(VS)和(VN)的比值,其结果直接影响了目标图像分类和识别等数据处理效果。光学系统信噪比表达式为:
上式中,δ为探测器的像元尺寸,tin为探测器能量积分时间,τa为大气的平均透过率,τb为光学系统平均透过率,E为太阳在地面的光普照度,D*为探测器的可探测比,ρ为地物的反射率,z为太阳天顶角,Xt为光谱带宽,F为光学系统的F数,△f为噪声等效带宽。由上式可知,光学系统的F数越小,系统透过率越高,探测器像元尺寸越大、探测效率越高,仪器的信噪比越高。
4.探测器凝视时间
探测器凝视时间指仪器的瞬时视场扫过地元目标时,探测器的光能量积分时间。
凝视时间越长,探测器积分能量越多,光谱响应越强,所获取的目标图像信噪比越高。
5.集光本领
集光本领表示光谱仪收集和传递光能量的本领,即表明目标自身辐射的光谱亮度和仪器能够探测的光度数值的关系。对于成像光谱仪来说,集光本领可通过计算狭缝面积和孔径立体角之积得到,其中狭缝宽度对光谱分辨率有影响,其尺寸应与像元尺寸一致,因此可通过增大光学系统的孔径立体角提高集光本领。
相关产品
-
荧光光谱分析测试或分析方法原理
荧光光谱技术是一种通过测量物质吸收光后发射的荧光光谱来研究物质性质的技术。本文根据《JY-T 0571-2020》,简单总结了荧光光谱分析测试或分析方法原理。..
-
红外光谱的定性分析和定量分析
红外光谱分析方法通则中,规定了用红外光谱仪定性定量分析有机物及无机物的通用规则,适用于波数范围为7 800cm\'~350cm「(波长1.28 gm~28.57..
-
全球高光谱成像系统(HSI)市场发展情况
高光谱成像系统(High Spectral Imaging,HSI),是一种能够获取并处理从紫外到红外波段范围内多个连续窄波段图像的技术,广泛应用于农业、医疗健..
-
全球首款百通道百万像素高光谱实时成像器件问世
中国工程院院士、北京理工大学教授张军团队首创片上光谱复用感知架构,自主研制了全球首款百通道百万像素高光谱实时成像器件,光能利用率创造世界纪录。..